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    HTRB/HTGB高温反偏老化试验系统冷热冲击试验箱

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    高温反偏老化试验系统(HTGB/HTRB/H3TRB)

    • 适用范围:适用于F型、G型、B型、TO220、TO3P、TO92、片式、轴向、径向等各种封装分立器件进行高温反偏试验:如各种二极管、三极管、场效应管、可控硅、桥堆等。
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    • 产品详情

    高温反偏老化试验系统(HTGB/HTRB/H3TRB)适用范围:适用于F型、G型、B型、TO220、TO3P、TO92、片式、轴向、径向等各种封装分立器件进行高温反偏试验:如各种二极管、三极管、场效应管、可控硅、桥堆等。

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    产品关键词:高温反偏老化试验箱,光电子器件老化系统,电容器高温老化系统,高温高湿偏置试验系统,光电耦合器专用设备,发光二极恒流高温电流寿命试验,大功率晶体管老化系统,IGBT模块功率循环试验系统,集成电路高温动态老化系统、DC/DC模块高温老化系统、三端稳压器高温寿命老化系统、高温反偏老化系统、HTRB、HTIR、H3TRB、分立器件综合老化系统、二极管恒流老化系统、二极管全动态老化系统、OPLIFE、功率循环、IGBT功率循环老化系统、LED老化系统、电容器高温老化系统、可控硅老化系统、老化板、老化测试座、试验电源 等等

    • 型号ESPEC GPR-03

    • 试验腔尺寸600*750*800(mm)

    • 风道设计竖向循环风道设计(老化板竖直插板)

    • 试验温度 / 湿度范围-20℃~+150℃ / 25~98%RH

    • 温度均匀性125℃±;3℃(空载); 试验温度波动度:±;0.5℃

    • 供水人工补水/自动补水

    • 容量

    • 独立试验区数量4-8个区

    • 试验通道4、8、16......

    • 单板工位数40 / 80工位(可选)

    • 整机容量640 / 1280工位(可选)

    • 试验电源

    • 试验电源数量4~16台

    • 试验电源量程Max1000V

    • 驱动检测板

    • 驱动板数量16块

    • 电压检测范围0.0V~1000.0V; 分辨率:1V; 精度:±;(1%+1LSB)

    • 漏电流检测范围0.0μA~A~50.0mA; 分辨率:0.1muA; 精度:±;(1%+1LSB)

    • 工位保护方式继电器保护 / 保险丝保护

    • 老化板

    • 基板材质耐150℃高温的H3TRB专用高绝缘底板,表面经过进口三防漆涂覆,确保高温高湿条件下使用寿命可达两年以上

    • 老化座老化座Socket均采用耐高温、抗氧化、耐疲劳材料

    • 老化板尺寸290*600(mm)

    • 整机信息

    • 尺寸1800W*1550D*2000H(mm)

    • 电网要求A.C.220V±;10% / 50Hz

    • 功率 / 重量10KW / 700kg

    •           高温反偏老化板 

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